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Angebot für TLP-Pulsprüfsysteme

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Das TLP Transmission Line Impuls Testsystem ist ein tragbares Impuls-IV-Kurven-Charakterisationssystem zur Simulation von elektrostatischen Entladungsimpulsereignissen wie TLP, vf-TLP, HMM, HBM, EFT und Niederspannungsüberspannungen. Das System erkennt transiente Spannungen und Stromwellenformen auf der Ebene von Pikosekunden oder Nanosekunden während des Impulses und prüft den Zustand der gemessenen Geräte vor und nach dem Impuls (Leckstrom, Bruchspannung, Ablenkstrom, statische IV-Kurve usw.), die messbare DUT umfasst elektrostatische Schutzgeräte, Halbleiter, Schaltungsmodule, Touchpad-Sensoren usw.

Produktdetails

Die TLP-Prüfung und -Analyse des Systems entspricht den ANSI/ESD STM5.5.1-2014-Prüfstandards. Das ES620-System spritzt qualitativ hochwertige Rechteckwellenpulse in das Gerät ein und erfasst gleichzeitig den Strom, der durch das Gerät fließt, und die Spannung an beiden Enden des Geräts. Die Testergebnisse liefern eine pulsierte IV-Kurve, die den Benutzern ermöglicht, die transiente Reaktion des Geräts auf Nanosekund-Ebene zu charakterisieren. Das System verfügt auch über automatisierte Methoden zur Erkennung von Gerätefall wie Leckstromprüfung, statische IV-Kurven, Schmelzen und Funkenentladung.

Die Test- und Analysefunktionen von Ultra-Fast TLP (vf-TLP) entsprechen den ANSI/ESD SP5.5.2-2007 Teststandards. Der vf-TLP-Test dient zur Simulation der elektrostatischen Entladung von CDM-Geschwindigkeiten und erfasst Strom und Spannung von Geräten in einem Zustand mit hoher Geschwindigkeit (etwa 100 s Anstieg). Auf diese Weise können die Anwender die Reaktionsgeschwindigkeit und die Spitzenspannung des Geräts testen.

Die HMM-Prüfung und Analyse entspricht der ANSI/ESD SP5.6-2009-Prüfmethode, die die mittelständische ESD-Prüfmethode IEC61000-4-2 für die Prüfung von ICs ersetzt. Bei der Prüfung von niedrigen Impedanzgeräten oder Wafers bietet diese Prüffunktion der Anlage eine ideale Wellenform nach IEC61000-4-2 und vermeidet viele Probleme, die bei elektrostatischen Entladungspistolen-Tests auftreten können, wie z. B. schlechte Wiederholbarkeit, falsche Entladungspositionen, EMI-Interferenzen durch nicht abgeschirmte Relais und die Einrichtung großer Boden- und Kopplungsplatten.

Das System verfügt über eine vollständige Softwaresteuerung, die den Anstieg entlang der Zeit und der Impulsbreite anpassen kann, eine gute Kompatibilität mit IVI-Instrumenten und ein kleines Volumen hat.

TLP-LeiterpulsprüfsystemMerkmale:

Konfiguration eines flexiblen TLP IV-Kurven-Impuls-Test-Analysesystems

Ultraportables Design

Ultraschnelle Testgeschwindigkeit, parallele Prozessverarbeitung

Die Testversion verfügt über 25A-, 50A- und 100A-Module.

Hochwertige TLP-Pulse

Erweiterbare Testmodule umfassen vf-TLP, HMM, HBM und Niederspannungsüberspannung

Automatisierte Methoden zur Fehlererkennung umfassen: DC-Probe (Spannung oder Strom), statische IV, Schmelze, Bruch, Vorurteilsquellen und Kundenanpassung

Softwaregesteuerte Impulsinjektion: Einzelne, kontinuierliche, IV-Kurvencharakterisierung

Steigende Option: 60ps bis 50ns (abhängig vom Modul)

Pulsbreitenoptionen: 1ns bis 3200ns (abhängig vom Modul)

TLP-LeiterpulsprüfsystemAnwendung:

Wafer-Ebene ESD-Test

PCB-/Verpackungsgrad ESD-Test

ESD-Prüfung von Systemen/Schaltungen

Sicherheits-Arbeitsbereich (SOA)

Test der Wiederherstellungszeit

Differentielle ESD-Injektion

Touchscreen ITO Mikrobandkabelschmelztest

Touchscreen ITO Mikroband Kabel Funken Entladung Test

TLP-Injektionsstrompulz erfüllt und übertrifft ANSI/ESD STM 5.5.1-2008

vf-TLP Injection Stromimpulse erfüllt und übertrifft ANSI/ESD SP5.5.2-2007

Für Geräte mit niedriger Impedanz entsprechen die Injektionsstrompulse des HMM der Wellenform IEC61000-4-2

Spezifikationen:

ES620 IV-Kurve-Testsystem auf Basis von Übertragungsleitungsimpulsen

Parameter	ES620-25	ES620-50	ES620-100	Einheit	Bemerkung
Offene Ausgangsspannung	±0.5~1250	±0.5~2500	±0.5~5000	V
Ausgangsspannung bei 50 Ω Last	±0.25–625	±0.5~1250	±0.5~2500	V
Kleine Spannungsschritte bei 50Ω Belastung Niedrige Spannung – 40V	0.01	0.01	0.02	V	Mit 46dB Reflexunterdrückung
Kleine Spannungsschritte von 40V bis Hochspannung bei 50Ω Belastung	0.1	0.1	0.2	V	6 dB Reflexunterdrückung
Ausgangsspannungsfehler	<5%<>			%	Seit der Kalibrierung
Kurzschluss Ausgangsstrom	±0.01~25	±0.02~50	±0.04~100	Ein
Ausgangsstrom bei 50 Ω Last	±0.005~12.5	±0.01~25	±0.02~50	Ein
Spitzenleistung bei 50 Ω Last	≥7.813	≥31.25	≥125	Leistung kW
Eigenes TLP steigt entlang der Zeit	≤0.2	≤0.2	≤0.3	ns	ES620-25 bis zu 60 ps
Andere Optionen für den Aufstieg entlang der Zeit	0.06~50			ns	Bezüglich des Modells siehe Tabelle 2.
Eigene TLP-Pulsbreite	100±1			ns	Anpassen
Weitere Pulsbreitenoptionen	1~3200	5~1000	5~1000	ns	Bezüglich des Modells siehe Tabelle 3.
Testzeiten	Normalerweise 0,2 bis 2			S	Bezüglich Oszilloskop, SMU und Vorschriften
Größe	347X300X145			mm
Gewicht	5	6	8	Kilogramm
I&V Direktmessung	I&V Direktmesssonde A6213-T1 (Stromsonde CT-2 und Spannungssonde Typ 1KT)
Einsetzbares Oszilloskop	Die meisten Modelle von Tektronix, Agilent, LeCroy, Rigol				Andere Modelle können auf Kundenbedürfnisse abgestimmt werden
SMU einsetzbar	Keithley 24xx/26xx Serie SMU				Andere Modelle können auf Kundenbedürfnisse abgestimmt werden

Erweitertes menschliches Metallmodellmodul ES620-HMM1 (DUT für Kurzschluss, 100ΩHMM, basierend auf ANSI/ESD SP5.6-2009)

Parameter	ES620-25	ES620-50	ES620-100	Einheit	Bemerkung
HMM Spitzenstrom	22.5	45	90	Ein	3,75A pro KV ≤ ± 10% IEC 61000-4-2 (R=330) Ω， C = 150pF)
HMM Strom bei 30ns	12	24	48	Ein	≤±10% (besser als ±30% nach IEC)
HMM Strom bei 60ns	6	12	24	Ein	≤±10% (besser als ±30% nach IEC)

Erweitertes menschliches Modellmodul ES620-HBM1 (ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2014 R=1,5 kΩ, C=100pF)

TLP传输线脉冲测试系统

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