Japanisches AF-Mikrometer Tiefenhöhenmesser AFM-30

1. ist ein neues Tiefenhöhenmessgerät, das die Beobachtung von schmalen Bildern durch Lichtschneiden und die AF-Verfolgung von Punktbildern (Autofokus) kombiniert. 2. Durch die kontinuierliche Verfolgung des AF-Antriebs können hochpräzise wiederholte Messungen, gute Bedienungsfähigkeit und schnelle Geschwindigkeit erreicht werden. 3. Aufgrund der Art und Weise, wie die Messung durchgeführt wird, während man die Form der Stufe beobachtet, die in einem schmalen Bild abgebildet ist, können die Höhen und Tiefen auf dem Messbild in Echtzeit erkannt werden und die Teile, die gemessen werden müssen, leicht bestimmt werden können. 4. das gesamte konsistente Messsystem des schmalen Bildes am Messpunkt, der Punkt-Lichtbild und der Elektronenleitung-Benchmarklinie im Zentrum, kann durch die Prüfung der Abweichung die Messung mit falschen Werten verhindern. Zusätzlich zu den Standard-90 ° kann der Lichtschneidwinkel je nach Verwendung 30 ° 60 ° 120 ° eingeführt werden.