Deutschland Fischer Metallbeschichtungsdickenmesser Beschichtungsdickenmesser

Fischerscope XULM240

Das Röntgendickenmesser FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240 ist ein leistungsstarker, kompakter und weit verbreiteter Röntgenfluorescenzschichtdickenmesser und Materialanalysator. Ersetzt durch den früheren XULM-xym. Häufig verwendet, um die Beschichtungsdicke und die Materialanalyse auf kleinen Werkstücken ohne Verlust zu messen. Besonders geeignet für die Messung in der Qualitätskontrolle, der Inspektion von Zutaten und der Produktionsprozesskontrolle.

Typische Anwendungsbereiche sind beispielsweise:

1. Beschichtungsmessung von sehr kleinen Teilen, Anschlüssen und Leitungen

2. Manuelle Messung auf der Leiterplatte

Messung der Nachfrage in der Schmuck- und Uhrenindustrie

Der proportionale Empfänger des Fischer xulm 240 Röntgenfluorescenz-Schichtdickenmessers ermöglicht eine hohe Zählrate und ermöglicht eine hochpräzise Messung. Wie alle Fischerscope-Röntgeninstrumente bietet dieses Gerät eine hervorragende Präzision und langfristige Stabilität, die die Zeit und den Aufwand für die Kalibrierung des Instruments erheblich reduziert. Mit Hilfe der grundlegenden Parametermethode von Fischer können die Zusammensetzung von Feststoff und Flüssigkeit analysiert und die Beschichtungsdicke der Probe gemessen werden, ohne die Standardflachenkorrektur zu verifizieren. Das Fischer xulm 240x-Strahlenbeschichtungsdickenmesser ist mit einem mikrofokussierten Röntgenrohr sowie einem elektrisch schaltbaren Visor und einem Grundfilter ausgerüstet und eignet sich daher besser für die Messung kleiner Werkstücke.

Grundtechnische Daten des Röntgenbeschichtungsdickenmeßers FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240:

1, Messung der Dicke der monometallischen Beschichtung.

2. Messung der Dicke der Legierungsbeschichtung.

3, doppelte Beschichtungsdickenmessung.

4. Doppelbeschichtung (eine Schicht ist Legierung) Dickenmessung.

5. Drei Schichtdickenmessungen.

Kleiner Messbereich: Messpunktgröße ca. 0,09 x 0,09 mm.

6, Messdickengenauigkeit: Wenn die Dicke von Au größer als 0,1 μm ist, gibt es eine Standardplattenkalibrierung von < ± 5% und keine Standardplattenkalibrierung von < ± 10%. <>