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qeservice@enli.com.tw
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Adresse
Zimmer 6C, Gebäude 3, Lane 100, Zuchong Road, Pudong New District, Shanghai
Guangzhou Technologie Co., Ltd.
qeservice@enli.com.tw
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Zimmer 6C, Gebäude 3, Lane 100, Zuchong Road, Pudong New District, Shanghai
QE-RXPhotovoltaik-Batterie-Effizienzverlustanalyser Die Eigenschaften sind wie folgt:

Hohe Genauigkeit und geringe Unsicherheit
Die Kalibrierung von QE-RX ist NIST-nachverfolgbar, wodurch die Testdaten von QE-RX weniger unsicher sind als bei jedem anderen EQE-Testsystem. Gleichzeitig wurde QE-RX von Enlitech entwickelt, einem 10-jährigen ISO/IEC 17025-zertifizierten Kalibrierungslabor. Dadurch sind die QE-RX-Testergebnisse für Si-Solarzellen sehr genau. Mit QE-RX erhalten Sie zuverlässige Ergebnisse.

Kompakte Struktur, aber vielfältige Funktionen
Der QE-RX integriert alle optischen und mechanischen Komponenten in den 80cm x 80cm x 60cm großen Gehäuse, einschließlich eines Phasenverstärkers für elektrische Signalaufnahme. Nicht beschränkt auf seine kompakte Größe bietet das QE-RX eine Vielzahl von Testdaten, einschließlich EQE, spektraler Reaktion, Reflexivität und IQE für Solarzellen. Kompakt und vielseitig sind die Vorteile des QE-RX.

* Leistungsverlustanalyse
QE-RX bietet in Kombination mit der SQ-JVFL-Software die vollständigsten Analysefunktionen, einschließlich Jsc-loss, Voc-loss, FF-loss und Bandgap-Berechnung. Diese Parameter sind Schlüsselfaktoren bei der Produktionskontrolle und der Effizienzempfehlung, was QE-RX zum Partner der Photovoltaikindustrie macht.
Für PESC, PERC, PERL, HJT, Rückkontakt, Doppelseite und TOP-Con Siliziumsolarzellen
Bereitstellung von Daten zu QE (Quanteneffizienz), PV-EQE (externe Quanteneffizienz), IPCE (Effizienz der Eingangsphotonen-Elektronen-Umwandlung), SR (Spektralreaktion), IQE (interne Quanteneffizienz) und Reflexivität.
Kompakte Konstruktion und hohe Wiederholbarkeit von über 99,5%.
Wellenlängenbereich: 300 bis 1200 nm
Jsc Verlust Analyse und Berichterstattung (mit SQ-JVFLA Software).
Berufsverlustsanalyse und Berichterstattung (mit der SQ-JVFLA-Software).
FF Verlust Analyse und Berichterstattung (mit SQ-JVFLA Software).
Die zur Verfügung gestellten EQE-Unsicherheitsbewertungsberichte und ISO/IEC 17025-zertifizierte Qualitätskontrollen können für Zeitschriftenbeiträge verwendet werden.
Diversifizierte und maßgeschneiderte Probenprüfgeräte.


QE-RXPhotovoltaik-Batterie-EffizienzverlustanalyserFür:
PERC / HJT / TOP-Con Effizienz von Photovoltaik-Solarzellen - Verlustanalyse
IEC-60904-8 Spektrale Reaktionsmessung
*IEC-60904-7 Berechnung des Fehlverteilungskoeffizienten
* IEC-60904-1 MMF-Korrektur
* Qualitätskontrolle bei der Verarbeitung von Siliziumsolarzellen
* Messung der Bandlücke von Siliziumsolarzellen