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Shanghai Xiangfeng Prüfgeräte Anlage
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Shanghai Xiangfeng Prüfgeräte Anlage

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Vollautomatische Zweikammern Hoch- und Tieftemperaturstoßprüfbox

VerhandlungsfähigAktualisieren am01/17
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Hersteller
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Übersicht

XF / WDCJ-100L-Zweikammer-Hoch- und Kryotemperatur-Schlagprobe wird weit verbreitet in der Luft- und Raumfahrt, Elektroelektronik, Instrumente, Materialausrüstung, Ersatzteile und anderen analogen Tests der Anpassungsprüfung unter dramatischen Veränderungen der Umgebungstemperatur und der Sicherheitsprüfung von elektronischen Komponenten, um Zuverlässigkeitsprüfungen, Produktscreening usw. bereitzustellen.

Produktdetails

1. Produktvorstellung

XF/WDCJ-100L Zweikammer Hoch- und Tieftemperatur-SchlagprobeWeit verbreitet in der Luft- und Raumfahrt, Elektroelektronik, Instrumente, Materialausrüstung, Ersatzteile und andere analoge Testteile unter starken Veränderungen der Umgebungstemperatur Anpassungsprüfungen und Sicherheitsprüfungen für elektronische Komponenten zur Verfügung stellen Zuverlässigkeitsprüfungen, Produktscreening und so weiter.


Zwei,XF/WDCJ-100L Zweikammer Hoch- und Tieftemperatur-Schlagprobetechnische Parameter

Modell

XF / WDCJ-100L

XF / WDCJ-225L

XF / WDCJ-500L

XF / WDCJ-010L

Studiogröße D x W x H

450×450×500

600×600×600

800×800×800

1000×1000×1000

Größe D × W × H

1560×870×1545

1710×1020×1845

1910×1220×2265

2110×1420×2665

Probenbereichgröße D x W x H

250×250×250

400×400×450

600×600×600

800×800×750

Leistung (KW) A/B/C

13/15/17

15/17/18

18/21/21

20/24/27

Leistung
Indikatoren

Temperaturbereich

A: -20 ℃ ~ 200 ℃ B: -40 ℃ ~ 200 ℃ C: -60 ℃ ~ 200 ℃

Temperaturschwankungen

Hoch- und niedrige Treibhausdurchschnitt ±2°C

Temperaturschwankungen im Probengebiet

±0,5°C (bei konstanter Temperatur)

Probenbereich Gewicht

30 kg

30 kg

50 kg

60 kg

Temperatur- und Feuchtigkeitskontrollsystem

Steuerung

Integrierter Mikrocomputer-Controller für importierte LED-Grafik (P·I·D + S·S·R)

Genauigkeitsbereich

Einstellgenauigkeit: Temperatur 0,1 ℃, Anzeigegenauigkeit: Temperatur 0,1 ℃, Auflösung: 0,1 ℃

Kühlsystem

Import deutscher Halbgeschlossener Wasserkühlkompressor / Original französischer "Tecon" / Vollständig geschlossene Luftkühlung

Kreislaufsystem

Temperaturbeständiger und geräuscharmer klimatisierter Motor. Mehrblätterliche Zentrifugalräder

Temperaturumstellungszeit

Von der Tieftemperaturzone zu der Hochtemperaturzone oder von der Hochtemperaturzone zu der Tieftemperaturzone ≤15S

Temperaturwiederherstellungszeit

≤5min (abhängig von den Temperaturwiederherstellungsbedingungen, sowohl von der Kühlwassertemperatur als auch von der Expositionsdifferenz, der Konstanzzeit und dem Probengewicht)

Methode des Temperaturschocks

Vertikale Zwei-Box-Methode (Zwei-Box-Kalt-Hitze-Schlag-Testbox)


Drei,Zweikammern Hoch- und TieftemperaturstoßprüfkammerDurchführung von Standards und Testmethoden

GB11158-2008 Technische Bedingungen der Hochtemperatur-Prüfkammer

GB10589-2008 Technische Bedingungen für die Tieftemperatur-Prüfkammer

GB10592-2008 Technische Bedingungen der Hoch- und Tieftemperatur-Prüfkammer (Temperaturwechsel)

GB/T2423.1-2008 Umgebungsprüfung von Elektronikprodukten Teil 2: Prüfmethode Prüfung A: Tieftemperatur (IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008 Umgebungsprüfung von Elektronikprodukten Teil 2: Prüfmethode Prüfung B: Hochtemperatur (IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002 Umgebungsprüfung von Elektronikprodukten Teil 2: Prüfmethode Prüfung N: Temperaturänderungen (IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009 Ausrüstung Laborumgebungsprüfmethode Teil 3: Hochtemperaturprüfung GJB150.4A-2009 Ausrüstung Laborumgebungsprüfmethode Teil 3: Tieftemperaturprüfung GJB150.5-1986 Temperaturstoßprüfung