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329 Yangyue Road, Yang Wang Wirtschaftspark, Fengxian Distrikt, Shanghai
Shanghai Xiangfeng Prüfgeräte Anlage
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1. Produktvorstellung
XF/WDCJ-100L Zweikammer Hoch- und Tieftemperatur-SchlagprobeWeit verbreitet in der Luft- und Raumfahrt, Elektroelektronik, Instrumente, Materialausrüstung, Ersatzteile und andere analoge Testteile unter starken Veränderungen der Umgebungstemperatur Anpassungsprüfungen und Sicherheitsprüfungen für elektronische Komponenten zur Verfügung stellen Zuverlässigkeitsprüfungen, Produktscreening und so weiter.
Zwei,XF/WDCJ-100L Zweikammer Hoch- und Tieftemperatur-Schlagprobetechnische Parameter
Modell |
XF / WDCJ-100L |
XF / WDCJ-225L |
XF / WDCJ-500L |
XF / WDCJ-010L |
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Studiogröße D x W x H |
450×450×500 |
600×600×600 |
800×800×800 |
1000×1000×1000 |
|
Größe D × W × H |
1560×870×1545 |
1710×1020×1845 |
1910×1220×2265 |
2110×1420×2665 |
|
Probenbereichgröße D x W x H |
250×250×250 |
400×400×450 |
600×600×600 |
800×800×750 |
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Leistung (KW) A/B/C |
13/15/17 |
15/17/18 |
18/21/21 |
20/24/27 |
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Leistung |
Temperaturbereich |
A: -20 ℃ ~ 200 ℃ B: -40 ℃ ~ 200 ℃ C: -60 ℃ ~ 200 ℃ |
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Temperaturschwankungen |
Hoch- und niedrige Treibhausdurchschnitt ±2°C |
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Temperaturschwankungen im Probengebiet |
±0,5°C (bei konstanter Temperatur) |
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Probenbereich Gewicht |
30 kg |
30 kg |
50 kg |
60 kg |
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Temperatur- und Feuchtigkeitskontrollsystem |
Steuerung |
Integrierter Mikrocomputer-Controller für importierte LED-Grafik (P·I·D + S·S·R) |
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Genauigkeitsbereich |
Einstellgenauigkeit: Temperatur 0,1 ℃, Anzeigegenauigkeit: Temperatur 0,1 ℃, Auflösung: 0,1 ℃ |
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Kühlsystem |
Import deutscher Halbgeschlossener Wasserkühlkompressor / Original französischer "Tecon" / Vollständig geschlossene Luftkühlung |
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Kreislaufsystem |
Temperaturbeständiger und geräuscharmer klimatisierter Motor. Mehrblätterliche Zentrifugalräder |
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Temperaturumstellungszeit |
Von der Tieftemperaturzone zu der Hochtemperaturzone oder von der Hochtemperaturzone zu der Tieftemperaturzone ≤15S |
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Temperaturwiederherstellungszeit |
≤5min (abhängig von den Temperaturwiederherstellungsbedingungen, sowohl von der Kühlwassertemperatur als auch von der Expositionsdifferenz, der Konstanzzeit und dem Probengewicht) |
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Methode des Temperaturschocks |
Vertikale Zwei-Box-Methode (Zwei-Box-Kalt-Hitze-Schlag-Testbox) |
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Drei,Zweikammern Hoch- und TieftemperaturstoßprüfkammerDurchführung von Standards und Testmethoden
GB11158-2008 Technische Bedingungen der Hochtemperatur-Prüfkammer
GB10589-2008 Technische Bedingungen für die Tieftemperatur-Prüfkammer
GB10592-2008 Technische Bedingungen der Hoch- und Tieftemperatur-Prüfkammer (Temperaturwechsel)
GB/T2423.1-2008 Umgebungsprüfung von Elektronikprodukten Teil 2: Prüfmethode Prüfung A: Tieftemperatur (IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008 Umgebungsprüfung von Elektronikprodukten Teil 2: Prüfmethode Prüfung B: Hochtemperatur (IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002 Umgebungsprüfung von Elektronikprodukten Teil 2: Prüfmethode Prüfung N: Temperaturänderungen (IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009 Ausrüstung Laborumgebungsprüfmethode Teil 3: Hochtemperaturprüfung GJB150.4A-2009 Ausrüstung Laborumgebungsprüfmethode Teil 3: Tieftemperaturprüfung GJB150.5-1986 Temperaturstoßprüfung